JSM-7200F/LV All-in-One FE-SEM
JSM-7200F ir ļoti universāls, viegli lietojams analītiskais SEM, kas piedāvā jaunus uzlabotas veiktspējas līmeņus ierobežota…
JSM-7610F Scanning Electron Microscope
JSM-7600F piedāvā reālu 1000000 reižu palielinājumu ar 1 nm izšķirtspēju un nepārspējamu stabilitāti, ļaujot novērot…
JSM-7900F Field Emission SEM
JSM-7900F SEM ir unikāla, elastīga platforma, kas apvieno superaugstas izšķirtspējas attēlu veidošanu ar nepārspējamu nano…
JSM-IT100 InTouchScope™
Augstas izšķirtspējas attēlveidošana HV / LV / SE / GSE režīmos Ķīmiskā analīze ar integrētu…
IT500 InTouchScope SEM Series
Zeromag programma - vienkāršo navigāciju un uzlabo veiktspēju. Nodrošina vienmērīgu pāreju no optiskā uz SEM…
JSM-IT500HR InTouchScope
Augstas izšķirtspējas SEM ar lielu spilgtumu, izturīgu emiteru (1,5 nm pie 30kV, 4nm pie 1kV)…
No 1960-tajiemgadiem JEOLkompānijai ir bijusi vadošā loma skenējošo elektronmikroskopu izstrādē un attīstībā. JEOL nodrošina pilnvērtīgu lietotāju atbalstu, visaptverošu apmācību un lielisku servisu šiem instrumentiem.
JEOL jauninājumi izšķirtspējā un funkcionalitātē ļauj pētniekiem labāk attēlot un raksturot jaunās paaudzes nanomateriālus, uztvert bioloģiskās detaļas, detalizēti analizēt tiesu ekspertīzes paraugus, un precīzi noteikt specifiskas kvalitātes problēmas.
