JSM-7900F SEM ir unikāla, elastīga platforma, kas apvieno superaugstas izšķirtspējas attēlu veidošanu ar nepārspējamu nano mēroga mikroanalīzi. Šī iekārta izceļas ar ļoti ātru datu iegūšanu, izmantojot vienkāršu un automatizētu darbību.
Pielietojumi ir metālu, magnētisko materiālu, pusvadītāju, keramikas, medicīnas ierīču un bioloģisko paraugu attēlveidošana un analīze.
JEOL ir pasaules līderis augstas veiktspējas, nepārspētas izturības transmisijas elektronmikroskopu (TEM) izstrādē un ražošanā. JEOL ir vairāk nekā 60 gadu…
JSM-7200F ir ļoti universāls, viegli lietojams analītiskais SEM, kas piedāvā jaunus uzlabotas veiktspējas līmeņus ierobežota budžeta laboratorijām. Šis augstas izšķirtspējas…
JSM-7600F piedāvā reālu 1000000 reižu palielinājumu ar 1 nm izšķirtspēju un nepārspējamu stabilitāti, ļaujot novērot nanostruktūru virsmas morfoloģiju.
